高通取得基于缺陷的物理层指纹专利

金融界2024年11月25日消息,国家知识产权局信息显示,高通股份有限公司取得一项名为“基于缺陷的物理层指纹”的专利,授权公告号 CN 114503626 B,申请日期为2020年9月。

本文源自:金融界

作者:情报员