高通取得基于缺陷的物理层指纹专利

金融界2024年11月25日消息，国家知识产权局信息显示，高通股份有限公司取得一项名为“基于缺陷的物理层指纹”的专利，授权公告号 CN 114503626 B，申请日期为2020年9月。

本文源自：金融界

作者：情报员