国内之最！成大电机系李昆忠教授 荣获IEEE Fellow殊荣
▲成功大学电机工程学系李昆忠教授，荣获国际电机电子工程师学会IEEE Fellow（会士）。（图／成大提供）
致力于积体电路测试技术之研究，在测试资料压缩及系统晶片测试设计架构方面成效卓着的成功大学电机工程学系李昆忠教授，日前由国际电机电子工程师学会 （IEEE） 的计算机专业学会推荐，在众多竞争者中脱颖而出，荣获为IEEE Fellow（会士）。
成大指出，李昆忠教授荣获为IEEE Fellow，肯定他对积体电路设计及测试技术之贡献，李昆忠教授对台湾及全世界学产界之贡献阙伟，今被选为IEEE Fellow，乃实至名归。在学术界及产业界都产生巨大影响及贡献的电机工程学系李昆忠教授，他所发明之广播式扫描测试技术，现今已成为高复杂度积体电路最常采用之测试资料压缩方法，目前使用此方法试或其衍生技术之积体电路晶片已超过数十亿颗，对业界测试成本之降低影响至为深广。李昆忠教授，迄今已发表210余篇期刋及会议论文，这在积体电路测试领域甚为不易。其论文多在高品质之IEEE期刋及国际顶尖会议发表，例如在2016年全世界最高水准之国际测试会议即有三篇论文发表，不仅为国内之最，且在全世界亦数一数二。李昆忠教授之学术研究成果丰硕，且获得国内外之高度肯定，他曾带领成功大学研究团队两度获得国科会(现科技部)国家型三年计划之最佳绩优计划奖，近几年亦持续在多项国内及国际会议中获得殊荣，如在2015 积体电路测试技术研讨会、2015及2016全国超大型积体电路设计暨电脑辅助设计(VLSI/CAD)研讨会、2016年IEEE 高阶测试研讨会等会议，均获得最佳论文奖，其指导学生也在2015年IEEE 亚洲测试会议亦荣获最佳博士论文奖。 李昆忠教授目前是IEEE 亚洲测试会议的指导委员会主席，IEEE测试技术理事会亚洲及太平洋区主席，IEEE国际设计、自动化及测试会议执行委员会委员以及IEEE 高阶测试研讨会指导委员会委员。