胜科纳米取得一种用于有机体器件内部异物分析的制样及检测方法专利，缩短制样时间

金融界 2024 年 8 月 21 日消息，天眼查知识产权信息显示，胜科纳米（苏州）股份有限公司取得一项名为“一种用于有机体器件内部异物分析的制样及检测方法“，授权公告号 CN116577300B，申请日期为 2023 年 3 月。

专利摘要显示，本发明提供了一种用于有机体器件内部异物分析的制样及检测方法，所述制样方法包括以下步骤：（1）对有机体器件内部的异物进行定位，然后在有机体器件中建立通道直至露出异物；（2）采用聚焦离子束对步骤（1）所述的异物依次进行第一切割和第二切割，得到含有异物的待测样品。通过对异物定位后刨开一个通道接近异物，然后采用聚焦离子束切割出整个或部分异物，缩短了制样时间，之后结合 FTIR 技术进行分析检测，能够去除有机体器件材料干扰，确保分析结果的准确性和可靠性。

本文源自：金融界

作者：情报员