鑫方卡申请一种RFID标签的性能测试方法及系统专利，提高了RFID标签性能测试的效率及准确性

金融界2024年10月28日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市鑫方卡科技有限公司申请一项名为“一种RFID标签的性能测试方法及系统”的专利，公开号CN 118818191 A，申请日期为2024年7月。

专利摘要显示，本发明涉及RFID标签性能测试领域，尤其涉及一种RFID标签的性能测试方法及系统，该方法包括以下步骤。获取RFID标签多维度信号；对RFID标签多维度信号进行静态信号性能评估，生成静态性能评估数据对待测试RFID标签进行多磁场强度环境测试，获取磁场环境下标签信号；对磁场环境下标签信号进行误读率计算，以构建误读率变化曲线；基于误读率变化曲线对磁场环境下标签信号进行磁场兼容性能分析，生成磁场兼容性能参数；基于预设的动态环境场景对待测试RFID标签进行多路径移动测试模拟，获取实时追踪标签信号；基于实时追踪标签信号得到信号识别最大读写范围及多路径信号衰减值。本发明提高了RFID标签性能测试的效率及准确性。

本文源自：金融界

作者：情报员