上海塞普申请粒料质量检测设备及方法专利，能构建消除伪目标的图像采集环境

金融界 2024 年 12 月 9 日消息，国家知识产权局信息显示，上海塞普机电工程技术有限公司申请一项名为“粒料质量检测设备及方法”的专利，公开号 CN 119086585 A，申请日期为 2024 年 7 月。

专利摘要显示，本申请公开一种粒料质量检测设备及方法，所述粒料质量检测设备包括：机座，包括用于放置待检粒料的透光台面以及位于透光台面下侧的容纳空间；光源组件，设置在容纳空间中，用于提供第一强度光线和第二强度光线；光栅组件，与透光台面相平行地设置在容纳空间中，并位于光源组件与透光台面之间，设置有对应待检粒料的粒径的用于分割光源组件所提供的光线的明暗条纹；反光罩，设置在摄像装置与透光台面之间，具有对应摄像装置的视窗，用于反射被分割后的透射光线从而形成多角度反射光线以利用多角度反射光线及被分割后的透射光线构建消除伪目标的图像采集环境；以及摄像装置，悬设于透光平台的上侧用以摄取待检粒料的检测图像。

本文源自：金融界

作者：情报员