南京芯视元取得芯片光学特性测试设备专利，设备批量测试效率高

金融界2024年9月27日消息，国家知识产权局信息显示，南京芯视元电子有限公司取得一项名为“一种芯片光学特性测试设备”的专利，授权公告号CN 221764851 U，申请日期为2024年1月。

专利摘要显示，本申请提供一种芯片光学特性测试设备，涉及芯片检测技术领域，包括用于承载待测芯片的载片单元，载片单元可沿待测芯片所在的平面移动；检测单元用于朝向待测芯片出射光线，并采集待测芯片反射的调制后的光线；运动单元用于驱动载片单元和检测单元沿预设路径运动；控制单元分别和载片单元、检测单元和运动单元电连接，以控制载片单元、检测单元和运动单元，测试待测芯片的参数。设备集成度高，无需人为改变光路即可测试所有参数，精度高，稳定性好，首次光路对准后无需再次进行调整，更换不同的待测芯片即可连续测试，批量测试效率高；设备支持多点测量，通过控制待测芯片移动，测量待测芯片表面各个区域的光学特性，方便分析比对。

本文源自：金融界

作者：情报员