杭州傲芯科技申请用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路及方法专利，提高了测试向量的稳定性

金融界2024年11月14日消息，国家知识产权局信息显示，杭州傲芯科技有限公司申请一项名为“一种用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路及方法”的专利，公开号CN 118937951 A，申请日期为2023年6月。

专利摘要显示，本发明提供的一种用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路及方法，通过引脚复用的方式将芯片引脚的划分为工作模式和测试模式，且在电路中设置了模式切换模块，模式切换模块通过识别输入的测试控制信号来实现两种模式之间的切换，其中测试模式下还设有测试向量读取模式，且将测试向量读取模式的识别测试控制信号设置为负电压信号，可避免客户在使用过程中误触发测试向量读取模式。存储模块中采用移位读取的方式进行测试向量的读取和存储，提高了测试向量的稳定性；同时还设有移位控制模块，用于控制寄存器是否进行测试向量移位读取功能，增强了测试向量的完整性，减小了用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路的在芯片中的占用面积。

本文源自：金融界

作者：情报员