《科技》爱德万测试获中芯长电设备大单

中国最大IC封测厂中芯长电因应记忆体测试需求，与半导体测试设备商爱德万测试（Advantest）签订大量采购合约，将向爱德万测试购入大量的记忆体测试系统T5830，用于测试串列周边介面（SPI）NOR Flash装置。

中芯长电是由中芯国际、长电科技于2014年8月合资成立，后获中国集成电路产业投资基金与高通（Qualcomm）旗下子公司Qualcomm Global Trading投资，以先进12吋凸块与晶圆测试起家，进一步提供全球顶尖的中段矽片制造与测试服务并拓展先进3D IC业务。

中芯长电过去已曾安装爱德万测试测试系统V9300，用以测试高速数位与精度类比IC，此次则为购买记忆体测试系统。在有机发光二极体（OLED）与触控面板感应晶片（TDDI）迅速成长带动下，SPI NOR Flash装置需求持续走强。

中芯长电半导体执行长崔东表示，公司非常高兴能与爱德万测试签订策略性合约，并期许在业务范围拓展持续成长的记忆体市场、以及研发更复杂的3D IC之际，持续维持双方合作关系。

爱德万测试总裁兼执行长吉田芳明（Yoshiaki Yoshida）则表示，中国人口与人均收入不断增加，带动NOR Flash产业成长。在企业基础建设发展日趋成熟，以及包括中芯长电在内的产业主要参与者规模不断扩大，成为带动市场成长的助力。

爱德万测试表示，去年推出的T5830能执行晶圆测试，并为低脚位到高脚位IC提供最终测试，测试机功能一应俱全，能为广泛用于行动电子装置的各式快闪记忆体，提供最佳化的低成本大量测试能力，为客户创造可观的投资回报（ROI）、降低财务风险。

T5830系统适用生产及工程开发，可用于认证测试或大量生产，且可完全相容于T5800系列产品，强化其可靠性以及模组可升级性。爱德万测试在13～15日于东京举办的SEMICON Japan 2017国际半导体展，也展示T5830记忆体测试机在内的领先测试解决方案。