《科技》爱德万测试开发者大会,26日上海举行

爱德测试(Advantest)第11届VOICE年度开发者大会于5月揭幕,今年以「洞悉连网世界与量测的奥秘为题,于16、17日先在美国棕榈泉登场,26日将移师中国上海,邀请12国、22间企业客户分享产业洞见及最佳实务经验

此次开发者大会,将来自世界顶尖整合元件制造商(IDM)、晶圆厂、IC设计公司委外半导体封装测试(OSAT)供应商的半导体测试专家齐聚一堂。今年大会也特别扩大互动资讯展区规模,可借此认识领域专家,并出席社交活动拓展产业人脉。

爱德万测试表示,此次技术发表主题将涵盖八大领域,包括特定元件测试、硬体设计与整合、提升产出、缩短产品上市时间、最新软/硬体测试解决方案测试方法、产品工程,以及ATE产业热门议题

同时,爱德万测试也增加新主题,首次探讨针对V93000平台的SmarTEST 8.0技术。除了论文发表以外,爱德万测试研发工程师与技术专家亦将在互动资讯站和与会贵宾讨论、交流其他测试主题。

在中国上海举行的VOICE开发者大会,大会邀请台积中国区业务发展资深总监陈平担纲专题演讲贵宾,将深入剖析全球半导体产业现况科技趋势,尤其将针对中国半导体产业生态市场,提出精辟见解。