《科技》东京半导体展 爱德万测试秀多元解决方案
日本东京国际半导体展(SEMICON Japan)今年首次采线上虚拟方式举办,于今(14)日起连4天登场。半导体测试设备商爱德万测试(Advantest)以赞助商身份参与,展示10多种最新的多元测试解决方案及产品,致力在持续演进的半导体价值链中提升客户价值。
爱德万测试此次展示的最新产品,包括系统单晶片(SoC)测试系统,影像、数位、电源供应扩充模组,整合预烧(burn-in)和记忆格(memory-cell)测试功能的记忆体测试机,以及爱德万测试云端解决方案(Cloud Solutions)等。
爱德万测试此次亦赞助「SMART行动力」及「SMART劳动力」议程,以及专为学子开设的「未来学院」。执行董事津久井幸一将于「SMART行动力」议程中致词,并邀请博世(Bosch)和MIRISE Technologies高层,探讨自动驾驶和半导体科技演进。
而17日举行的「SEMI企业解决方案」议程,欧洲爱德万测试产品行销主管Markus Knoch将以「百万兆级运算时代下的测试作业」为题发表演说,探讨未来高效能运算元件测试可能面临的挑战,并介绍自动测试设备(ATE)如何协助提升从设计到量产的工作流程。