《科技》爱德万测试推AI应用解决方案 助升IC生产良率

元件良率为半导体生产过程的关键效能指标，需要工程人员持续除错和微调。ACS EASY解决方案运用AI技术，自动监测测试环境并进行AI推论（inference），拦检并分析良率下降原因，能即时解决生产问题、缩短侦错时间，并大大减少分析测试资料工作量。

ACS EASY善于处理大量资料，借由比较最新与先前批次测试结果，快速辨别不正常类别原因。而图形化的使用者介面（GUI）除便于线上传输测试结果，省去制作个别报的麻烦，且操作直觉简便，不需要熟悉AI、机器学习、资料分析或统计学也能轻松上手。

爱德万测试表示，一家采用此解决方案的业界大厂指出，原先每天需耗费100个工程小时分析厘清生产良率下降原因，自采用ACS EASY新系统后一举省下约8成时间，并成功侦测出先前遭忽略的多个良率问题和背后原因。

爱德万测试客户服务本部执行副总张建华表示，业界向来期待在引进AI和先进资料分析后，能帮助IC测试向前跃进一大步。ACS EASY为低成本、安装容易又操作简便的系统，测试工程师不用成为数据科学家，也能快速掌握有用资讯。

爱德万测试表示，ACS EASY运用自我学习技术分类所有良率相关问题，以便未来监测和分析，能进一步扩大系统储存知识库，有利后续推论应用创造更大价值。此解决方案将会在爱德万测试线上入口网Advantest Cloud Solutions上线。