爱德万测试发表ACS 促进新一代IC设计生产效率

半导体测试设备领导供应商爱德万测试(Advantest Corporation)与PDF Solutions Inc携手合作,发表两款创新云端软体解决方案:一是爱德万测试V93000动态参数测试 (Dynamic Parametric Test,简称DPT) 系统,由PDF ExensioR DPT提供技术支援;二是边缘高效能运算 (HPC) 系统,两者隶属于最新发布之爱德万测试云端解决方案 (Advantest Cloud Solutions,简称ACS)。

该方案是提供以云端为基础产品服务生态系,而其核心正是专注于资料分析、由PDF Exensio提供技术支援的平台「爱德万测试云端」(Advantest Cloud),也是由爱德万测试与PDF Solutions共同开发。

借重PDF Solutions开发的核心科技,就能运用客户工作流程产生的资料,反过来对半导体从设计认证到制造、再到晶片组和系统级测试的各段流程提供回馈。如此一来,客户便能从供应链、自家设备和测试资料汲取更多有价值的资料,并运用爱德万测试云端解决方案的先进演算法、整合性工作流程与方法,缩短达成良率所需的时间、提高整体设备效率

不论是关于先进制成节点电子微缩 (electrical scaling)、2.5D与3D封装等半导体技术突破,还是关于系统方面出现的新焦点,于业者而言都是挑战,唯有仰赖由软体引导的全面性解决方案才能克服。若可以将遍布于传统半导体价值链中的资料孤岛给整合起来,必能大幅提升产品品质、制造良率以及成本效益

由PDF ExensioR DPT技术支援的爱德万测试V93000动态参数测试系统,是爱德万测试与PDF Solutions携手开发,为V93000 SMU8参数测试平台新增以规则为本 (rule-based) 的智慧测试流程。有了这项科技,测试流程能在几毫秒内即时自动优化,以扩大裸晶测试范围、改善异常量测的特征 (characterization)、纠正设备问题和简化额外资讯收集,支援根本原因验证 (root-cause identification) 和下游分析 (down-stream analytics)。

新的先进高速边缘运算产品能执行复杂的测试负载,延迟仅毫秒之差,且能提供给早期采用者使用。有了为机器学习 (ML)、解调 (demodulation) 或其他高效能负载而预先设定的容器 (container),这套系统使得在半导体测试中执行机器学习变得更容易。除了方便客户透过云端追踪、管理和保管所有容器外,也让客户能借由内建有顺向/逆向资料馈送之应用程式介面 (API),来随选存取先前插入的资料。客户可以在生产过程部署机器学习模型和演算法、执行现地测试流程优化,亦能在保障资料安全的条件远端管理高敏感度IP。

美国爱德万测试公司总裁执行长Doug Lefever表示,爱德万测试不仅提供最先进的测试技术,为客户创造价值,亦持续开创新的企业实践、拓展我们的产品组合,推出迅速回应市场需求有助客户节省成本的云端服务。我们将这样的创新视为爱德万测试宏观设计(Grand Design) 目标的一环,进一步推升整体半导体价值链。