爱德万测试推出最新T5835记忆体测试机

综观市场趋势，随着挥发性与非挥发性记忆体IC的介面速度持续加快，原先中等速度的DRAM核心最终测试速度也持续增加，并在可靠度、测试覆盖率和成本效益之间达到最佳平衡。现今高速元件在进行NAND Flash记忆体测试时的介面速度可能超过2 Gbps，预料即将问世的非挥发性记忆体测试速度甚至将超过4 Gbps。对IC制造商而言，理想的测试解决方案除了要能跟上日益提高的性能要求，还要维持或改善整体测试成本。

最新T5835系统对任何运作速度高达5.4 Gbps的记忆体IC都具备完整测试功能，包含各新世代记忆体，如NAND Flash快闪记忆体、双倍资料率DDR与低功率双倍资料率LPDDR的DRAM晶片都能满足测试需求。此外，T5835系统内建专门的硬体功能，使其能实现领先业界的高产能要求、降低测试成本，针对最终封装级测试更能同时处理768个元件。

T5835系统功能包括DRAM已知良品（KGD）晶圆级测试，针对先进行动记忆体强化的可编程设计电源供应（PPS），以及即时DQS vs. DQ功能借以提升良率。

T5835的设计是基于模组强化的T5800系列平台，能使晶圆测试与最终测试的可扩充性、弹性与效能达到最佳化。这套系统可以设置为研发环境使用的工程机，也能配备小、中或大型测试头，投入线上生产测试。

T5835系统设置都承袭爱德万测试现有的记忆体测试系统，并搭载Future Suite作业系统，提供客户具延续性的测试程式相容性。这些特点让使用者得以从前代T5800系列无缝接轨，同时又能兼顾生产效率。

爱德万测试记忆体测试事业执行副总裁铃木雅之表示，具备高性能、多元功能的最新T5835系统，不仅是T5800系列最高等级新作，也是目前业界最优秀的记忆体测试机。T5800产品家族早已是市场认可的全球标准，最新推出的T5835测试机亦将延续一贯优异传统。首批T5835系统预计于今年底前出货给关键客户。