《科技》爱德万测试24日办SoC技术研讨会 报名人数创高

爱德万测试表示，此次活动中将发表各项新型SoC测试解决方案，包括针对工程应用与实验室所开发的新型V93000测试站，可加快产品开发速度，并将展示新加入V93000测试头系列中的DUT介面，可改变机械尺寸涵盖新应用需求，同时保持与现有载板兼容性。

爱德万测试指出，今年研讨会首次推出用于电源管理晶片（PMIC）测试和其他需要更高电压应用的XPS电源供应模组新版本。此外，还将讨论V93000 WiFi 7解决方案、大电流概况分析新功能，以及自动化检测（ATE）上的高速扫描和系统级测试（SLT）功能。

此外，为让客户与使用者更深入了解各项新测试解决方案，大会设置多个技术交流站（Technology Kiosk），提供参与者和爱德万测试技术顾问交流讨论，了解有关新解决方案的更多讯息。活动中亦将展示新硬体设计、应用范例并操作软体即时展现新功能。

爱德万测试台湾董事长暨总经理吴万锟表示，今年研讨会内容丰富，自10月底开放注册至今，已有超过400位客户完成报名，创下历年新高。秉持客户的成长就是公司的成长理念，未来期许能在不断进化的半导体供应链中，持续提高客户价值。

除了持续提供业界领先的技术方案，台湾爱德万测试亦致力履行企业社会责任，服务范畴包括社服、教育、环保、艺文等面向，已协助超过60个单位。2019年起筹划校园相关的产业讲座及半导体测试课程，希望让更多学生认识半导体和相关测试领域。

爱德万测试表示，截至11月中，共推出近60场半导体测试相关课程及产业讲座和企业参访，概括逾20所大学院系及逾8000名学生，以积极行动回馈校园，并为半导体产业培育人才贡献一份心力。