上海聚跃检测技术申请芯片顶层重布线层去除方法专利，通过物理去除方式规避影响后续试验分析的问题

金融界2024年10月9日消息，国家知识产权局信息显示，上海聚跃检测技术有限公司申请一项名为“芯片顶层重布线层的去除方法”的专利，公开号CN 118748154 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本发明公开了一种芯片顶层重布线层的去除方法，包括：提供芯片结构，所述芯片结构具有顶层重布线层；提供橡皮，将所述芯片结构具有顶层重布线层的一面在所述橡皮表面进行研磨，直至完全去除顶层重布线层，得到处理后的芯片结构。本发明的芯片顶层重布线层的去除方法，其通过采用物理去除方式，更大程度上规避采用化学溶液加热通过金属间互联Via下钻到下层金属及芯片表面的ALpad，破坏芯片内部金属形貌及芯片本身的一些失效点，进而影响后续试验分析的问题。

本文源自：金融界

作者：情报员