联发科、爱立信 5G NR双连结测试成功

联发科（2454）宣布与爱立信成功完成5G NR双连结（dual connectivity）测试，有效结合Sub-6频段的高覆盖率和毫米波（mmWave）频段的高速率特性，充分利用多样化的频谱资源，提供更高的网路速度和更低的时延，创下业界最高5.1Gbps的下行速率纪录，将有利于协助全球5G网路部署的推展。

联发科表示，这次测试使用M80 5G数据机晶片的测试装置，结合800MHz的高频宽和60MHz的中频宽，成功实现在5G独立组网（5G SA）下，首次结合毫米波和Sub-6频段进行的双连结测试，并缔造业界最高的下行速率，对5G NR双连结的启用深具里程碑的意义。

5G NR双连结是3GPP Release-16版本导入的重要技术，为终端装置和无线电存取网路（RAN）提供多标准和多频段支援，有效提高频谱效率和负载平衡，是5G独立组网（5G SA）的关键技术。联发科指出，5G NR双连结不仅能优化5G网路环境，还能进一步降低时延、提高资料传输量和网路稳定性，协助产业为使用者带来更多的创新服务。

联发科无线通讯系统发展部总经理潘志新表示，联发科透过与爱立信的紧密合作，成功展示了新一代5G的M80数据机晶片在未来网路的能力。

5G NR双连结提高了网路容量和性能，是5G发展的关键技术之一，将直接推进下一代5G网路服务，并实现跨事业、产业和消费者的创新应用。

在此之前，联发科与爱立信已基于天玑5G行动晶片成功完成了Sub-6频段FDD／TDD 5G载波聚合互通性测试，并建立了5G SA载波聚合连网通话。

联发科指出，该次测试以联发科M80 5G数据机晶片，成功地启用了5G NR双连结功能。