电子产品抓Bug 高雄大学吴松茂有一套

高雄大学电机工程学系教授兼「先进构装整合技术中心（APITC）」主任吴松茂，自主研发可精确侦测电子产品异常、电磁辐射泄漏干扰位置等检测技术，在过去8年来，协助厂商解决泛电路设计问题，超过100例，提高产品妥善率。（林瑞益摄）

就像屋顶墙壁漏水找师傅维修，高雄大学电机工程学系教授兼「先进构装整合技术中心（APITC）」主任吴松茂及其团队，以「近场量测系统」为架构，自主研发可精确侦测电子产品异常、电磁辐射泄漏干扰位置等检测技术，在过去8年来，协助厂商解决泛电路设计问题，超过100例，提高产品妥善率。

吴松茂团队开发的「整合式近场量测系统及检测技术」获全球显示器驱动、时序控制IC大厂「奇景光电（Himax）」挹注千万经费兴建，主要由多轴机械手臂机台、可隔绝外界电磁波之空间舱室（电波暗室）、宽频频谱及高速即时示波器所组成。

吴松茂指出，电子产品、设备上市前须通过「电磁相容性（EMC）」规范，包括产生的电磁信号是否对其他产品造成电磁干扰，以及不被其他产品发出电磁波干扰的「电磁耐受」，最令业者棘手的情况是电路受到干扰而失效，但关机重开后又正常却找不出病灶，他这套检测技术可彻底解决且提供完整改善方案。

该团队发展出完整且实测验证的静电电荷消散路径测试程序方法，可直观地看到静电电荷如何从电子系统电路中传递消散，或是造成晶片电路损伤、电路失效原因。

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