成大教授李昆忠 获选IEEE会士

成功大学6日表示，致力于积体电路测试技术研究的成大电机工程学系教授李昆忠，已获选为电机电子工程师学会会士（IEEE Fellow）。（成功大学提供）中央社记者张荣祥台南传真 105年12月6日

成功大学今天表示，致力于积体电路测试技术研究的成大电机工程学系教授李昆忠，已获选为电机电子工程师学会会士（IEEE Fellow）。

成大指出，李昆忠发明的广播式扫描测试技术，已成为高复杂度积体电路最常采用的测试资料压缩方法，使用此方法测试或衍生技术的积体电路晶片超过数十亿颗。

李昆忠已发表210余篇期刊及会议论文，这在积体电路测试领域非常不容易。他的论文多在高品质的IEEE期刊及国际顶尖会议发表，在今年全球最高水准的国际测试会议，他就发表3篇论文。

目前，李昆忠是IEEE亚洲测试会议指导委员会主席、IEEE测试技术理事会亚洲及太平洋区主席、IEEE国际设计、自动化及测试会议执行委员会委员及IEEE高阶测试研讨会指导委员会委员。

电机电子工程师学会（Institute of Electrical and Electronics Engineers，简称IEEE）创立于1963年，是世界最大的专业技术组织之一，拥有170多个国家42万名会员，总部设于美国纽约市，在全球150多个国家也有分会。1051206